HCDR-P平板导热仪，采用优化动态PID算法控温稳定，均热结构提升受热效率。具备样品槽一键操控、厚度自动测量、精细化加压功能，7 寸触控屏操作直观。软件双向通讯实现智能实验控制，自动记录分析数据。导热系数测量范围0.0020-2.0000W/(m・K)，控温精度±0.02℃，满足高精度测试需求。

主要特点

• 全控温系统采用优化的动态PID算法，极大的规避了传统PID算法的缺点，提高了控温的稳定性。

• 功率平台采用均热结构工艺，有效的保证了表面温度的均匀性，受热效率更高。

• 样品槽具有一键操控功能，上位机和下位机均可实现槽内机械结构的自动操作，操控更加便捷。

• 仪器内置高精度激光测距传感器，具有自动测量样品厚度的功能，让测试更加精准高效。

• 仪器内置微型压力传感器，可以对样品进行精细化的加压测试，用来满足不同的测试压力需求。

• 具有友好的人机界面，仪器配有7寸LCD触控屏，可通过触控屏来控制整个测试系统，同时冷、热板温度以及样品压力、厚度等参数值可直观的由液晶屏观察显示。

• 软件具有双向通讯功能，软件上可以设置样品实验所需任何参数，即通过操作软件可完成整个实验过程，让实验更加智能。

• 仪器具有高度自动化的计算机数据通讯和智能分析处理系统，软件可以实时记录样品的实验数据，且结束后自动分析实验结果。

技术参数